Deze reeks apparatuur bestaat hoofdzakelijk uit zeven belangrijke subsystemen: een microfocus-röntgenbron, beeldeenheid, computerbeeldverwerkingssysteem, mechanisch systeem, elektrisch regelsysteem, veiligheidsbeschermingssysteem en alarmsysteem. Door moderne niet-destructieve testtechnologie (NDT), computersoftwaretechnologie, beeldacquisitie- en verwerkingstechnologie, mechanische transmissietechnologie en AI-algoritmen te integreren, combineert het systeem optische, mechanische, elektrische en computertechnologieën in één enkel platform. Door gebruik te maken van verschillen in röntgenabsorptie door materialen met verschillende dichtheden en diktes, genereert het systeem beelden van de interne structuur van een object en voert het interne defectinspectie uit. Het biedt real-time, high-definition inspectiebeelden van producten, waardoor de identificatie van interne defecten en de classificatie en classificatie van defecttypen mogelijk wordt. Bovendien kan het AI-algoritme, volgens gebruikersspecifieke vereisten, automatisch gedetecteerde defecten evalueren, waardoor de nauwkeurigheid, consistentie en objectiviteit van inspectieresultaten wordt gegarandeerd.
Tot 45x geometrische vergroting en een minimale brandpuntsafstand van 4 μm, uitgerust met AI-ruisonderdrukking en AI-superresolutie-beeldvormingstechnologieën.
Het ingebouwde Hikvision Guanlan AI-model maakt detectie van lege ruimtes met één klik mogelijk.
Eenvoudig te bedienen, met slechts 30 minuten training vereist voor volledige werking.
Ondersteunt zowel bemonstering als volledige inspectie.
Verbeterde hardwarebescherming; dosisequivalent van oppervlaktestraling <0,5 μSv/uur.
Röntgengegevens kunnen aan productcodes worden gekoppeld, waardoor volledige traceerbaarheid van defecten mogelijk is.
| Algemene specificaties | |
|---|---|
| Algemene afmetingen | 1300 mm (L) * 1500 mm (B) * 1850 mm (H) (exclusief driekleurig licht en bedieningsconsole) |
| Totaal gewicht | 1600KG |
| Totaal stroomverbruik | 550W |
| Voeding | Wisselstroom 220 V 50/60 Hz |
| Bedrijfstemperatuur | 10-35℃ |
| Certificering | CE-conform |
Een Automated X-ray Inspection (AXI)-systeem legt röntgenbeelden van elektronische producten vast en analyseert hun interne structuur zonder het product te beschadigen. Het systeem wordt aangedreven door grootschalige AI-modellen van Hikvision Guanlan en vergelijkt automatisch inspectiebeelden met getrainde AI-modellen om defecten, ontbrekende componenten en assemblageproblemen te detecteren, waardoor de nauwkeurigheid van de inspectie en de productie-efficiëntie worden verbeterd.