Het X-Ray Intelligent Defect Inspection System maakt gebruik van geavanceerde kunstmatige intelligentietechnologie en het eigen AI-XSP-beeldvormingsalgoritme om zeer nauwkeurige en aanpasbare detectie te bereiken van vreemde verontreinigingen (zoals metaal-, glas-, steen-, plastic- en botfragmenten) en productdefecten (inclusief telfouten en ontbrekende items). Het biedt betrouwbare technische ondersteuning voor het verbeteren van de productkwaliteit en productie-efficiëntie.
AI-aangedreven modellering met adaptieve verbetering onderdrukt effectief achtergrondinterferentie en levert een hoge detectie-efficiëntie en gesynchroniseerde identificatie van vreemde voorwerpen en defecten.
Innovatieve AI-technologie maakt volledige inspectie in het hele detectiegebied mogelijk zonder blinde vlekken of afscherming, waardoor een betrouwbare allround inspectie wordt gegarandeerd.
Gebruiksvriendelijke software met begeleide configuratie past de inspectieparameters automatisch aan, waardoor de bediening wordt vereenvoudigd en handmatige parameteraanpassingen worden geëlimineerd.
| Structuur | |
|---|---|
| Inspectietunnelbreedte | 160 mm |
| Hoogte inspectietunnel | 250 mm |
| Algemene afmetingen | 2150(H)*4200(L)*1500(B)mm Inclusief signaallicht |
| Machinegewicht | 1000 kg |
| Behuizingsmateriaal | Roestvrij staal (SUS304) |
Een Food X-ray Inspection-systeem maakt gebruik van röntgenbeelden om de interne inhoud van verpakt of onverpakt voedsel te inspecteren zonder het product te beschadigen. Aangedreven door grootschalige AI-modellen van Hikvision Guanlan, analyseert het systeem röntgenbeelden en vergelijkt deze met getrainde AI-modellen om automatisch vreemde voorwerpen, productdefecten en andere kwaliteitsproblemen te detecteren. Dit helpt fabrikanten de voedselveiligheid, productkwaliteit en inspectie-efficiëntie te verbeteren.
